a.波前畸变测量

　　设备名称：数字式波面干涉仪

　　

　　测试波长范围：633nm和1064nm

　　测试尺寸范围：Φ3mm~10mm×20mm~150mm@1064nm；

　　Φ3~100mm×250mm@633nm

　　测量精度：λ/12@1064nm；

　　λ/20@633nm

　　应用范围：测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体波前畸变，例如：Ho：Cr：Tm：YAG、Er：YAG等。

　　b.消光比测量：

　　设备名称：消光比测试系统

　　

　　测试波长范围：633nm和1064nm

　　测试尺寸范围：Φ3mm~10mm×250mm

　　测量误差：≤±5%

　　应用范围：测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体的消光比，例如：Ho：Cr：Tm：YAG、Er：YAG等。

　　c.角度测量：

　　设备名称：高精度测角仪

　　

　　测试范围：直径≥Φ3mm

　　测量精度： ≤0.3"

　　应用范围：测量具有一定反光率的平面固体的几何角度，例如：晶体棱镜，金属多面体等。

　　d.面型测量：

　　设备名称： ZYGO平面干涉仪

　　

　　测试范围：Φ3mm~100mm

　　测量精度：≤λ/20@633nm

　　应用范围：晶体样品的表面加工面型的精确测量。

　　e.应力测量：

　　设备名称：DIAS-1600数字式应力仪

　　测试范围：Φ5mm~60mm

　　测量精度：±6nm

　　应用范围：测量样品的微量应力大小及应力分布。

　　f.光谱测量：

　　设备名称：LAMBDA950分光光度计

　　测量范围：

　　波长范围：185nm~3300nm，

　　尺寸范围：Φ3mm~20mm×40mm@透过率

　　Φ5mm~20mm×90mm@反射率

　　测量精度：±0.1nm

　　应用范围：样品0-60度透过率的测量，样品6-68度反射率的测量，样品漫反射测量，偏振光p和s光的透过和反射测量。

　　g.激光损伤阈值测试

　　设备名称：抗光损伤阈值测试系统

　　测量范围：

　　波长：1064nm，

　　脉宽：10ns，

　　功率密度：600MW/cm2 ~ 2000 MW/cm2

　　功率波动：≤±5%

　　应用范围：膜层抗光损伤阈值的测量，晶体材料抗光损伤的测量。

　　h.单程损耗测试

　　设备名称：单程损耗测试系统

　　

　　测量范围：

　　波长范围：1064nm

　　尺寸范围：Φ4mm~20mm×250mm

　　测量误差：≤±10%

　　应用范围：测量晶体材料在1064nm波长激光单次通过后造成的光能量损耗。